La microscopie optique en champ proche a pour but d'améliorer la résolution latérale de la microscopie, classiquement limitée par le phénomène de diffraction. Cette technique de mesure utilise une pointe nanométrique qui frôle la surface des échantillons. Elle permet de détecter des variations optiques sub-micrométriques. Plusieurs équipes utilisent des sondes diélectriques munies d'une petite ouverture entourée d'un écran metallique, ce dernier permettant de confiner le champ électromagnétique.
Le laboratoire d'Optique de l'E.S.P.C.I. a developpé une nouvelle technique de microscopie en champ proche ayant la particularité d'utiliser des pointes métalliques sans ouverture comme sondes optiques. Ces pointes, dont le bout peut être assimilé à une particule de Rayleigh, sont des diffuseurs du champ électromagnétique en surface. Cette méthode permet de n'être pas limité par l'épaisseur de peau de l'écran métallique. Elle a permis d'atteindre des résolutions de 15 nanomètres avec un premier appareil fonctionnant par réflexion. De nombreux travaux ont permis de montré la validité de cette technique pour la mesure en reflexion de contrastes optiques nano-métriques.
 

DOMAINES D'ETUDE :
 

1  dans l'IR moyen(en anglais), de très bon résultats ont été obtenus  Ils ont démontré la fiabilité des mesures et la faisabilité d'études spectroscopiques.  2  nanostructures métalliques, avec différents microscopes optiques en champ proche fonctionnnant par transmission ou en reflexion totale interne,  nous avons étudié les interactions locales entre les ondes éléctromagnétiques et ces structures.    3 la sensibilité du microscope aux contraste de polarisation sert à la caractérisation magnéto-optique.

Photographie d'une pointe, le segment fait 500 microns.

 

EQUIPE
Jean Claude Rivoal, Professeur à l'université P. et M. Curie, Paris.
Lionel Aigouy, Chargé de recherche, CNRS.
Gianni Carbone, Doctorant, Italie.
Sebastien Ducourtieux, Doctorant, France.
Samuel Grésillon, Doctorant, France.
Ahmed Lahrech, Doctorant, Maroc.
Bruno Zappone, Doctorant, Italie.