MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE

L'invention du microscope à effet tunnel (S.T.M.) au début des années 80 a ouvert la voie à de nombreuses techniques expérimentales de caractérisation des surfaces à l'échelle du nanomètre.

Ce sont des techniques d’analyse de la surface basées sur l'interaction à très courte portée entre une pointe et l’échantillon. La microscopie à force atomique (AFM) est basée sur les forces d'interactions entre une pointe et la surface à analyser. La pointe est fixée à l’extrémité d’un levier flexible et doit être la plus fine possible, se terminant idéalement par un seul atome

Cette technique nous permet de caractériser les surfaces de polymères, de mettre en évidence une nanostructuration des matériaux étudiés